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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
| Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica | XX, 408 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) 530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126542 |
| Cham, : Springer, 2019 | ||
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
| Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
| Edizione | [Cham : Springer, 2019] |
| Pubbl/distr/stampa | XX, 408 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) 530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0126542 |
| XX, 408 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Electron microprobe analysis / S. J. B. Reed
| Electron microprobe analysis / S. J. B. Reed |
| Autore | Reed, S. J. B. |
| Pubbl/distr/stampa | Cambridge...[etc.] : Cambridge University Press, 1975 |
| Descrizione fisica | XVI, 400 p., [8] p. di tav. : ill. ; 23 cm. |
| Disciplina | 502.82 |
| Collana | Cambridge monographs on physics |
| Soggetto topico | Microscopio elettronico |
| ISBN | 0 521 20466 6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNIBAS-000012393 |
Reed, S. J. B.
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| Cambridge...[etc.] : Cambridge University Press, 1975 | ||
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Electron microscopy of enzymes : principles and methods / edited by M. A. Hayat
| Electron microscopy of enzymes : principles and methods / edited by M. A. Hayat |
| Autore | Hayat, M. A. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Van Nostrand Reinhold, [c1973-1977] |
| Descrizione fisica | 5 v. : ill. ; 23 cm |
| Disciplina | 502.82 |
| Soggetto topico |
Enzymes
Microscopy, Electron Microscopy, Electron - Technique |
| ISBN |
0442256795 (v.2)
0442256892 (v.4) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991003462149707536 |
|
Hayat, M. A.
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| New York : Van Nostrand Reinhold, [c1973-1977] | ||
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Electron microscopy of proteins / edited by James R. Harris
| Electron microscopy of proteins / edited by James R. Harris |
| Pubbl/distr/stampa | London : Academic Press, 1981-1987 |
| Descrizione fisica | 6 v. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 502.82 |
| Altri autori (Persone) | Harris, James R. |
| Soggetto topico |
Microscopy, electron - Periodicals
Proteins - Periodicals Ultrastructure (Biology) - Periodicals |
| ISBN |
0123276012 (v.1)
0123276020 (v.2) 0123276039 (v.3) 0123276047 (v.4) 0123276055 (v.5) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991003462259707536 |
| London : Academic Press, 1981-1987 | ||
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Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka
| Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka |
| Autore | Tanaka, Nobuo |
| Pubbl/distr/stampa | Tokyo, : Springer, 2017 |
| Descrizione fisica | XXVIII, 333 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa)
502.82(Microscopia) 620.1(Scienze dei materiali) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0124112 |
|
Tanaka, Nobuo
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| Tokyo, : Springer, 2017 | ||
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Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka
| Electron Nano-Imaging : Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM / Nobuo Tanaka |
| Autore | Tanaka, Nobuo |
| Edizione | [Tokyo : Springer, 2017] |
| Pubbl/distr/stampa | XXVIII, 333 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa)
502.82(Microscopia) 620.1(Scienza dei materiali) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0124112 |
|
Tanaka, Nobuo
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| XXVIII, 333 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Electronic Characterisation of Earth‐Abundant Sulphides for Solar Photovoltaics / Thomas James Whittles
| Electronic Characterisation of Earth‐Abundant Sulphides for Solar Photovoltaics / Thomas James Whittles |
| Autore | Whittles, Thomas J. |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | XXX, 362 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
530.41(Fisica dello stato solido) 543.54(Spettroscopia molecolare) 502.82(Microscopia) 620.1(Scienze dei materiali) 537.622(Semiconduttività) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0125683 |
|
Whittles, Thomas J.
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
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Electronic Characterisation of Earth‐Abundant Sulphides for Solar Photovoltaics / Thomas James Whittles
| Electronic Characterisation of Earth‐Abundant Sulphides for Solar Photovoltaics / Thomas James Whittles |
| Autore | Whittles, Thomas J. |
| Edizione | [Cham : Springer, 2018] |
| Pubbl/distr/stampa | XXX, 362 p., : ill. ; 24 cm |
| Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
| Disciplina |
621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata)
530.41(Fisica dello stato solido) 543.54(Spettroscopia molecolare) 502.82(Microscopia) 620.1(Scienza dei materiali) 537.622(Semiconduttività) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0125683 |
|
Whittles, Thomas J.
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| XXX, 362 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Essential NMR : For Scientists and Engineers / Bernhard Blümich
| Essential NMR : For Scientists and Engineers / Bernhard Blümich |
| Autore | Blümich, Bernhard |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica | XI, 165 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
540(Chimica generale)
543(Chimica analitica) 530.41(Fisica dello stato solido) 543.54(Spettroscopia molecolare) 502.82(Microscopia) 620.192(Polimeri) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126142 |
|
Blümich, Bernhard
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| Cham, : Springer, 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
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