Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization / / edited by Chandra Shakher Pathak, Samir Kumar
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization / / edited by Chandra Shakher Pathak, Samir Kumar
|
| Pubblicazione: | London : , : IntechOpen, , 2022 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (274 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 620.5 |
| Soggetto topico: | Atomic force microscopy |
| Persona (resp. second.): | PathakChandra Shakher |
| KumarSamir | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization |
| ISBN: | 1-83968-230-2 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910586664703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |