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| Autore: |
Flater David
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| Titolo: |
Screening for factors affecting application performance in profiling measurements / / David Flater
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2014 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (32 pages) : illustrations (some color) |
| Soggetto topico: | Computer science |
| Data integrity | |
| Altri autori: | FlaterDavid |
| Note generali: | "October 2014." |
| Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
| Title from PDF title page (viewed October 29, 2014). | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Screening for factors affecting application performance in profiling measurements ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910711252603321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |