Vai al contenuto principale della pagina

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: Flegler, Stanley L. Visualizza persona
Titolo: Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens Visualizza cluster
Pubblicazione: New York ; Oxford, : Oxford University Press, ©1993
Descrizione fisica: VIII, 225 p. ; 26 cm.
Disciplina: 502.825
Soggetto topico: Microscopio elettronico
Altri autori: Heckman, John W.  
Klomparens, Karen L.  
Titolo autorizzato: Scanning and transmission electron microscopy  Visualizza cluster
ISBN: 0195107519
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: TO01426813
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
Opac: Controlla la disponibilità qui