Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology / / Petr Klapetek
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| Autore: |
Klapetek Petr
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| Titolo: |
Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy : SPM Applications for Nanometrology / / Petr Klapetek
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| Pubblicazione: | San Diego : , : Elsevier Science, , [2018] |
| ©2018 | |
| Edizione: | Second edition. |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (xviii, 397 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 620.5 |
| Soggetto topico: | Scanning probe microscopy |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index. |
| Titolo autorizzato: | Quantitative data processing in scanning probe microscopy |
| ISBN: | 0-12-813347-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910583383403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Micro & nano technologies.