Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited J.I. Goldstein and H. Yakowitz ; foreword by T.E. Everhart
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| Autore: |
Yakowitz, H.
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| Titolo: |
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited J.I. Goldstein and H. Yakowitz ; foreword by T.E. Everhart
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| Pubblicazione: | New York : Plenum Press, 1975 |
| Descrizione fisica: | xviii, 582 p. : ill. ; 24 cm. |
| Soggetto topico: | Microprobe analysis |
| Scanning electron microscope | |
| Classificazione: | 53.0.64 |
| 53.0.692 | |
| 502.8 | |
| GH212 | |
| Altri autori: | Goldstein, Joseph I. Everhart, T.E. |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991001163649707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |