On the resolution and image intensity of the field-ion microscope / / by Victor G. Weizer and Americo F. Forestieri
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| Autore: |
Weizer Victor G.
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| Titolo: |
On the resolution and image intensity of the field-ion microscope / / by Victor G. Weizer and Americo F. Forestieri
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| Pubblicazione: | Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, , March 1969 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (ii, 14 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Microscopes |
| Photography | |
| Field ion microscopes | |
| Imaging systems - Image quality | |
| Persona (resp. second.): | ForestieriAmerico F. |
| Note generali: | "March 1969." |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (pages 13-14). |
| Titolo autorizzato: | On the resolution and image intensity of the field-ion microscope |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910716054103321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |