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Autore: | Bullis W. Murray |
Titolo: | Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices quarterly report : July 1 to September 30, 1971 / / W. Murray Bullis |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1972 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Altri autori: | BullisW. Murray |
Note generali: | 1972. |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices quarterly report |
Titolo autorizzato: | Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices quarterly report |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910711389003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |