Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
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| Autore: |
Breitenstein, Otwin
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| Titolo: |
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
| Titolo uniforme: | Lock-in Thermography |
| Edizione: | 3. ed |
| Descrizione fisica: | xxi, 321 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
| 78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Electronic Device Failure Analysis |
| IC Failure Analysis | |
| Illuminated LIT applied to solar cells | |
| LIT application to spin caloritronics problems | |
| Non-thermal LIT lifetime mapping | |
| Power devices for electric cars | |
| Shunt Imaging | |
| Solar Cells | |
| Trap Density Mapping | |
| Altri autori: |
Schubert, Martin C.
Warta, Wilhelm
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| Titolo autorizzato: | Lock-in Thermography |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00211395 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-99825-1 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer series in advanced microelectronics Berlin [etc.] . -Springer ; 10