Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
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| Autore: |
Goodhew, Peter J.
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| Titolo: |
Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
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| Pubblicazione: | London ; New York : Taylor & Francis, 2001 |
| Edizione: | 3rd ed. |
| Descrizione fisica: | x, 251 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 502.825 |
| Soggetto topico: | Electron microscopy |
| Altri autori: | Humphreys, F. J. Beanland, R. |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
| ISBN: | 0748409688 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991001754869707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |