Digital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek
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| Autore: |
HNATEK, Eugene R.
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| Titolo: |
Digital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek
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| Pubblicazione: | New York : Van Nostrand Reinhold, copyr. 1993 |
| Descrizione fisica: | X, 179 p. ; 24 cm. |
| Titolo autorizzato: | Digital integrated circuit testing from a quality perspective |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990001257930203316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Collocazione: | 621.381 548 HNA |
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Fa parte di:
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| Biblioteca: | Univ. di Salerno |
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