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2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing : 3-6 August 2020, Oxford, United Kingdom : proceedings / / Franz Wotawa [and eight-six others]



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Autore: Wotawa Franz Visualizza persona
Titolo: 2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing : 3-6 August 2020, Oxford, United Kingdom : proceedings / / Franz Wotawa [and eight-six others] Visualizza cluster
Pubblicazione: Pistacaway, New Jersey : , : IEEE, , 2020
Descrizione fisica: 1 online resource (x, 141 pages) : illustrations
Disciplina: 006.3
Soggetto topico: Artificial intelligence
Note generali: Includes index.
Nota di contenuto: Message from the General Chair viii -- Message from the Program Co-Chairs ix -- Committees -- Images -- Autonomous Vehicles -- Metamorphic Testing -- Data -- ML for Testing (I) -- ML for Testing (II) -- Evaluation of ML Algorithms -- Author Index.
Altri titoli varianti: 2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing
Titolo autorizzato: 2020 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing  Visualizza cluster
ISBN: 1-7281-6984-4
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996575638203316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui