Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components / Marta Rencz, Gábor Farkas, András Poppe editors
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| Titolo: |
Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components / Marta Rencz, Gábor Farkas, András Poppe editors
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2022 |
| Descrizione fisica: | ix, 385 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
| 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] | |
| 94-XX - Information and communication theory, circuits [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Bipolar transistors |
| Capacitors | |
| IGBT devices | |
| MOS transistors | |
| Reliability Testing | |
| Resistors | |
| Si diodes | |
| Structure integrity testing | |
| Thermal characterization | |
| Thermal testing | |
| Thermal transient testing | |
| Wide bandgap materials | |
| Persona (resp. second.): | Farkas, Gábor |
| Poppe, András | |
| Rencz, Marta | |
| Titolo autorizzato: | Theory and Practice of Thermal Transient Testing of Electronic Components |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00283898 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://doi.org/10.1007/978-3-030-86174-2 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |