Material Characterization Techniques and Applications / Euth Ortiz Ortega ... [et al.]
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| Titolo: |
Material Characterization Techniques and Applications / Euth Ortiz Ortega ... [et al.]
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| Pubblicazione: | Singapore, : Springer, 2022 |
| Descrizione fisica: | xv, 305 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
| 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Atomic Force Microscopy |
| DRIFT Spectroscopy | |
| Electrochemical Impedance Spectroscopy | |
| Fourier-transform Infrared spectroscopy | |
| High-Performance Liquid Chromatography | |
| MALDI-TOF Spectrometry | |
| Optical Microscopy | |
| Raman spectroscopy | |
| Scanning Electron Microscopy | |
| Thermal gravimetric analysis | |
| Transmission Electron Microscopy | |
| Wettability Analysis | |
| X-Ray Photoelectron Spectroscopy | |
| Persona (resp. second.): | Ortiz Ortega, Euth |
| Titolo autorizzato: | Material Characterization Techniques and Applications |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00284168 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://doi.org/10.1007/978-981-16-9569-8 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Progress in Optical Science and Photonics Cham . -Springer , 2013- ; 19