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Design and test evaluation of SiC diode modules [[electronic resource] /] / by Timothy E. Griffin and M. Gail Koebke



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Autore: Griffin Timothy E Visualizza persona
Titolo: Design and test evaluation of SiC diode modules [[electronic resource] /] / by Timothy E. Griffin and M. Gail Koebke Visualizza cluster
Pubblicazione: Adelphi, MD : , : Army Research Laboratory, , [2004]
Descrizione fisica: 1 online resource (vi, 36 pages) : color illustrations
Soggetto topico: Silicon carbide
Diodes, Schottky-barrier - Evaluation
Altri autori: KoebkeM. Gail  
Note generali: Title from title screen (viewed on Dec. 8, 2010).
"May 2004."
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Titolo autorizzato: Design and test evaluation of SiC diode modules  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910697176703321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: ARL-TR (Aberdeen Proving Ground, Md.) ; ; 3222.