Programmable, automated transistor test system / / Long V. Truong and Gale R. Sundburg
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| Autore: |
Truong Long V.
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| Titolo: |
Programmable, automated transistor test system / / Long V. Truong and Gale R. Sundburg
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| Pubblicazione: | Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, Scientific and Technical Information Branch, , February 1986 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (22 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Bipolar transistors |
| Performance tests | |
| Field effect transistors | |
| Numerical control | |
| Software engineering | |
| Transistors - Testing - Computer programs | |
| Bipolar transistors - Testing - Computer programs | |
| Metal oxide semiconductors - Testing - Computer programs | |
| Persona (resp. second.): | SundbergGale R. |
| Note generali: | "February 1986." |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 22). |
| Titolo autorizzato: | Programmable, automated transistor test system |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910709716503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |