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| Autore: |
Fultz, Brent
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| Titolo: |
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
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| Pubblicazione: | Berlin ; New York : Springer, c2002 |
| Edizione: | 2. ed. |
| Descrizione fisica: | xxi, 748 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 620.1/1299 |
| Soggetto topico: | Materials - Microscopy |
| Transmission electron microscopy | |
| X-ray diffractometer | |
| Classificazione: | LC TA417.23 |
| 53.7.18 | |
| Altri autori: | Howe, James M. |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
| ISBN: | 3540437649 (alk. paper) |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991001789629707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |