Computed electron micrographs and defect identification / A.K. Head...[et al.]
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| Autore: |
Head, A.K.
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| Titolo: |
Computed electron micrographs and defect identification / A.K. Head...[et al.]
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| Pubblicazione: | Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1973 |
| Descrizione fisica: | x, 400 p. : ill. ; 23 cm. |
| Soggetto topico: | Electron microscopy-Data processing |
| Metals-Defects-Data processing | |
| Classificazione: | 53.7.16 |
| 548'.842'02854 | |
| QD921 | |
| ISBN: | 0444104623 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991000863039707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Defects in crystalline solids ; 7