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| Autore: |
Decker S. E
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| Titolo: |
Systematic destruction of electronic parts for aid in electronic failure analysis / / S.E. Decker, T.D. Rolin, and P.D. McManus
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| Pubblicazione: | Huntsville, Alabama : , : National Aeronautics and Space Administration, Marshall Space Flight Center, , 2012 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (ix, 33 pages) : color illustrations |
| Soggetto topico: | Failure analysis |
| Electromechanics | |
| Electric potential | |
| Transistors | |
| Avionics | |
| Failure modes | |
| Altri autori: |
RolinTerry
McManusP. D
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on Dec. 26, 2012). |
| "June 2012." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 33). |
| Titolo autorizzato: | Systematic destruction of electronic parts for aid in electronic failure analysis ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910702342703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |