Far-infrared dielectric functions : silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), and high-purity silicon (Si) / / Giuseppe Cataldo, Edward J. Wollack
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| Autore: |
Cataldo Giuseppe
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| Titolo: |
Far-infrared dielectric functions : silicon nitride (SiNx), silicon oxide (SiOx), and high-purity silicon (Si) / / Giuseppe Cataldo, Edward J. Wollack
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| Pubblicazione: | Greenbelt, MD : , : National Aeronautics and Space Administration, Goddard Space Flight Center, , September 2020 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (26 pages) : color illustration |
| Soggetto topico: | Numerical analysis |
| Dielectric properties | |
| Dielectrics | |
| Persona (resp. second.): | WollackEdward J. |
| Note generali: | "September 2020." |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 2). |
| Altri titoli varianti: | Far-infrared dielectric functions |
| Titolo autorizzato: | Far-infrared dielectric functions |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910713926903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |