Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Autore: |
BRANDON, David
|
| Titolo: |
Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan
|
| Pubblicazione: | Chichester : John Wiley & sons, 1999 |
| Descrizione fisica: | XIII, 409 p. ; 23 cm. |
| Disciplina: | 620.11299 |
| Soggetto topico: | Materiali - Proprietá |
| Microstruttura | |
| Altri autori: |
KAPLAN, Wayne D.
|
| Titolo autorizzato: | Microstructural characterization of materials |
| ISBN: | 0-471-98502-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990000065630203316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Collocazione: | 620.11299 BRA |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
| Biblioteca: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |