2010 28th VLSI Test Symposium

• Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE, 2010
• Persona (resp. second.): IEEE Staff
• Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
• Titolo autorizzato: 2010 28th VLSI Test Symposium
• ISBN: 1-4244-6650-4
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996216501203316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno