2010 28th VLSI Test Symposium

• Record Nr.: UNISA996216501203316
• Pubbl/distr/stampa: [Place of publication not identified], : IEEE, 2010
• ISBN: 1-4244-6650-4
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph