1999 4th International Workshop on Statistical Metrology

• Pubblicazione: [Place of publication not identified], : Purchased from IEEE Service Center Single Publication Sales Unit, 1999
• Disciplina: 621.3815/2/0287
• Soggetto topico: Semiconductors - Characterization - Statistical methods; Semiconductors - Measurement; Electrical Engineering; Electrical & Computer Engineering; Engineering & Applied Sciences
• Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
• Titolo autorizzato: 1999 4th International Workshop on Statistical Metrology
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996199631103316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno