Vai al contenuto principale della pagina
| Autore: |
Waldstein Seth W.
|
| Titolo: |
Microwave photoelasticity : exploiting multiple resonances to measure stress changes within yttria-partially-stabilized / / Seth W. Waldstein and Peter J. Schemmel
|
| Pubblicazione: | Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , October 2021 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (12 pages) : color illustrations |
| Soggetto topico: | Photoelasticity |
| Zirconium | |
| Yttria-stabilized zirconia | |
| Persona (resp. second.): | SchemmelPeter J. |
| Note generali: | "October 2021." |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 12). |
| Altri titoli varianti: | Microwave photoelasticity |
| Titolo autorizzato: | Microwave photoelasticity ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910716941103321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |