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Autore: |
Truong Long V.
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Titolo: |
Programmable, automated transistor test system / / Long V. Truong and Gale R. Sundburg
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Pubblicazione: | Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, Scientific and Technical Information Branch, , February 1986 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (22 pages) : illustrations |
Soggetto topico: | Bipolar transistors |
Performance tests | |
Field effect transistors | |
Numerical control | |
Software engineering | |
Transistors - Testing - Computer programs | |
Bipolar transistors - Testing - Computer programs | |
Metal oxide semiconductors - Testing - Computer programs | |
Persona (resp. second.): | SundbergGale R. |
Note generali: | "February 1986." |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 22). |
Titolo autorizzato: | Programmable, automated transistor test system ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910709716503321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |