2010 International Conference on Microelectronic Test Structures
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
2010 International Conference on Microelectronic Test Structures
|
| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina: | 621.3810287 |
| Soggetto topico: | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| Integrated circuits - Testing | |
| Persona (resp. second.): | IEEE Staff |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Sommario/riassunto: | This page or pages intentionally left blank. |
| Titolo autorizzato: | 2010 International Conference on Microelectronic Test Structures |
| ISBN: | 9781424469154 |
| 1424469155 | |
| 9781424469147 | |
| 1424469147 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910139100503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |