Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : 20-23 November 2006, Fukuoka, Japan
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| Titolo: |
Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : 20-23 November 2006, Fukuoka, Japan
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 2004 |
| Disciplina: | 621.3815/48 |
| Soggetto topico: | Electronic digital computers - Testing - Circuits |
| Electronic circuits - Testing | |
| Fault-tolerant computing | |
| Electrical Engineering | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : 20-23 November 2006, Fukuoka, Japan |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996199924503316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |