Vai al contenuto principale della pagina
Autore: | Yakowitz, H. |
Titolo: | Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited J.I. Goldstein and H. Yakowitz ; foreword by T.E. Everhart |
Pubblicazione: | New York : Plenum Press, 1975 |
Descrizione fisica: | xviii, 582 p. : ill. ; 24 cm. |
Soggetto topico: | Microprobe analysis |
Scanning electron microscope | |
Classificazione: | 53.0.64 |
53.0.692 | |
502.8 | |
GH212 | |
Altri autori: | Goldstein, Joseph I. Everhart, T.E. |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 991001163649707536 |
Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |