Vai al contenuto principale della pagina

IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Titolo: IEEE Std 1500-2005 : IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Visualizza cluster
Pubblicazione: New York, NY : , : IEEE, , 2005
Descrizione fisica: 1 online resource (viii, 117 pages) : illustrations (some color)
Disciplina: 004.16
Soggetto topico: Embedded computer systems
Integrated circuits - Testing
Systems on a chip
Sommario/riassunto: This standard defines a mechanism for the test of core designs within a system on chip (SoC). This mechanism constitutes a hardware architecture and leverages the core test language (CTL) to facilitate communication between core designers and core integrators.
Altri titoli varianti: IEEE Std 1500-2005
Titolo autorizzato: IEEE Std 1500-2005  Visualizza cluster
ISBN: 0-7381-4694-3
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996280731803316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui