Vai al contenuto principale della pagina

Proceedings - International Test Conference (25th : 1994 : Washington D.C)



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Titolo: Proceedings - International Test Conference (25th : 1994 : Washington D.C) Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : The Conference, 1994
Disciplina: 621.3815/48
Soggetto topico: Integrated circuits - Testing - Congresses
Electronic digital computers - Testing - Congresses - Circuits
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: Proceedings - International Test Conference (25th : 1994 : Washington D.C)  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996214346903316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui