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ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan



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Titolo: ATS 2009 : proceedings : 2009 Asian Test Symposium : 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : , : IEEE, , 2009
Descrizione fisica: 1 online resource (xxv, 465 pages)
Soggetto topico: Electronic circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Fault-tolerant computing
Note generali: Includes index.
Titolo autorizzato: ATS 2009  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-7541-0
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996206597303316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui