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Autore: |
McCrackin F. L (Frank L.)
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Titolo: |
A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films / / Frank L. McCrackin
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Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1964 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Soggetto topico: | FORTRAN (Computer program language) |
Thin films - Optical properties | |
Altri autori: | McCrackinF. L (Frank L.) |
Note generali: | 1964. |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Titolo autorizzato: | A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910711247303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |