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Autore: |
Dahoo Pierre Richard
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Titolo: |
Applications and metrology at nanometer scale 1 : smart materials, electromagnetic waves and uncertainties / / Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
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Pubblicazione: | Hoboken, New Jersey : , : John Wiley & Sons, Incorporated |
London, England : , : ISTE Ltd, , [2021] | |
©2021 | |
Descrizione fisica: | 1 online resource (251 pages) : illustrations |
Disciplina: | 780 |
Soggetto topico: | Materials |
Soggetto genere / forma: | Electronic books. |
Persona (resp. second.): | PougnetPhilippe |
El HamiAbdelkhalak | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index. |
Titolo autorizzato: | Applications and metrology at nanometer scale 1 ![]() |
ISBN: | 1-119-80814-6 |
1-119-80824-3 | |
1-119-80822-7 | |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910555082603321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |