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1. |
Record Nr. |
UNINA9910555082603321 |
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Autore |
Dahoo Pierre Richard |
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Titolo |
Applications and metrology at nanometer scale 1 : smart materials, electromagnetic waves and uncertainties / / Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami |
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Pubbl/distr/stampa |
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Hoboken, New Jersey : , : John Wiley & Sons, Incorporated |
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London, England : , : ISTE Ltd, , [2021] |
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©2021 |
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ISBN |
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1-119-80814-6 |
1-119-80824-3 |
1-119-80822-7 |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (251 pages) : illustrations |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Materials |
Electronic books. |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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Nota di bibliografia |
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Includes bibliographical references and index. |
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