2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : proceedings : 3-7 May 2009 Santa Cruz, CA, USA ; VTS 2009
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : proceedings : 3-7 May 2009 Santa Cruz, CA, USA ; VTS 2009
|
| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society, 2009 |
| Disciplina: | 621.39/5 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
| Electrical Engineering | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : proceedings : 3-7 May 2009 Santa Cruz, CA, USA ; VTS 2009 |
| ISBN: | 9781509075676 |
| 1509075674 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910140015403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |