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A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films / / Frank L. McCrackin



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Autore: McCrackin F. L (Frank L.) Visualizza persona
Titolo: A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films / / Frank L. McCrackin Visualizza cluster
Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1964
Descrizione fisica: 1 online resource
Soggetto topico: FORTRAN (Computer program language)
Thin films - Optical properties
Altri autori: McCrackinF. L (Frank L.)  
Note generali: 1964.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Title from PDF title page.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Titolo autorizzato: A Fortran program for analysis of ellipsometer measurements and calculation of reflection coefficients from thin films  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910711247303321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui