Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
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| Autore: |
Snyder, Robert L.
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| Titolo: |
Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
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| Pubblicazione: | Oxford, : Oxford University Press, 1999 |
| Descrizione fisica: | xxii, 785 p. ; 24 cm |
| Disciplina: | 548.83 |
| Soggetto topico: | Cristallografia |
| Diffrazione di polveri | |
| Microstruttura | |
| Altri autori: |
Bunge, Hans J.
Fiala, Jaroslav
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| Titolo autorizzato: | Defect and microstructure analysis by diffraction |
| ISBN: | 0198501897 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | RML0266477 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Cassino |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |