Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]
|
| Pubblicazione: | New York : Kluwer Academic/Plenum, c2003 |
| Edizione: | 3rd ed. |
| Descrizione fisica: | xix, 689 p. : ill. (some col.) ; 26 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
| Disciplina: | 502.825 |
| Soggetto topico: | Scanning electron microscopy |
| X-ray microanalysis | |
| Classificazione: | 53.0.692 |
| LC QH212.S3 | |
| Altri autori: | Goldstein, Joseph |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
| ISBN: | 0306472929 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991001789879707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |