Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
Proceedings / / Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
|
| Pubblicazione: | New York, NY : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 1991- |
| Disciplina: | 621 |
| 621.3815/2 | |
| Soggetto topico: | Semiconductors - Thermal properties |
| Semiconductors - Cooling | |
| Amorphous semiconductors - Thermal properties | |
| Integrated circuits | |
| Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
| ISSN: | 1065-2221 |
| Titolo abbreviato (Periodici): | IEEE SEMICONDUCTOR THERMAL MEASUREMENT AND MANAGEMENT SYMPOSIUM |
| IEEE SYMPOSIUM SEMICONDUCTOR THERMAL MEASUREMENT AND MANAGEMENT | |
| Proceedings | |
| Altri titoli varianti: | IEEE SEMI-THERM Symposium |
| Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium | |
| Annual Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium | |
| SEMI-THERM | |
| Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium | |
| Titolo autorizzato: | Proceedings |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910874599803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |