Effect of flaw generation on proof-testing / / S. M. Wiederhorn; N. J. Tighe

• Autore: Wiederhorn S. M
• Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977
• Descrizione fisica: 1 online resource
• Altri autori: TigheN. J WiederhornS. M
• Note generali: 1977.; Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.; Title from PDF title page.
• Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
• Titolo autorizzato: Effect of flaw generation on proof-testing
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910710003903321
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