2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
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| Titolo: |
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 621.3810287 |
| Soggetto topico: | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| Semiconductors - Testing | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| ISBN: | 1-5090-9294-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910145625903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |