PARTICLE characterization in technology / Editor John Keith Beddow
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| Titolo: |
PARTICLE characterization in technology / Editor John Keith Beddow
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| Pubblicazione: | Boca Ranton : Crc press, copyr. 1984 |
| Descrizione fisica: | 2 voll., ill., 26 cm |
| Disciplina: | 620 |
| Persona (resp. second.): | Beddow, John Keith |
| Note generali: | v. 1: Applications and Microanalysis. v. 2: Morphological Analysis. |
| Titolo autorizzato: | PARTICLE characterization in technology |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Italiano |
| Record Nr.: | 990000290350403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 04 162-78/2 |
| 04 162-78/1 | |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |