Vai al contenuto principale della pagina
Autore: | Fultz, Brent |
Titolo: | Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe |
Pubblicazione: | Berlin ; New York : Springer, c2002 |
Edizione: | 2. ed. |
Descrizione fisica: | xxi, 748 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina: | 620.1/1299 |
Soggetto topico: | Materials - Microscopy |
Transmission electron microscopy | |
X-ray diffractometer | |
Classificazione: | LC TA417.23 |
53.7.18 | |
Altri autori: | Howe, James M. |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references and index |
ISBN: | 3540437649 (alk. paper) |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 991001789629707536 |
Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |