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Autore: |
Weizer Victor G.
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Titolo: |
On the resolution and image intensity of the field-ion microscope / / by Victor G. Weizer and Americo F. Forestieri
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Pubblicazione: | Washington, D.C. : , : National Aeronautics and Space Administration, , March 1969 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (ii, 14 pages) : illustrations |
Soggetto topico: | Microscopes |
Photography | |
Field ion microscopes | |
Imaging systems - Image quality | |
Persona (resp. second.): | ForestieriAmerico F. |
Note generali: | "March 1969." |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (pages 13-14). |
Titolo autorizzato: | On the resolution and image intensity of the field-ion microscope ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910716054103321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |