Vai al contenuto principale della pagina
Autore: |
Hubbard C. R
![]() |
Titolo: |
XRAYL : a powder diffraction profile refinement program / / C. R. Hubbard; J. M. Stewart; Y. Zhang; B. Morosin; E. L. Venturini
![]() |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1988 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Altri autori: |
HubbardC. R
![]() ![]() ![]() ![]() |
Note generali: | 1988. |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | XRAYL |
Titolo autorizzato: | XRAYL ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910710516003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |