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XRAYL : a powder diffraction profile refinement program / / C. R. Hubbard; J. M. Stewart; Y. Zhang; B. Morosin; E. L. Venturini



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Autore: Hubbard C. R Visualizza persona
Titolo: XRAYL : a powder diffraction profile refinement program / / C. R. Hubbard; J. M. Stewart; Y. Zhang; B. Morosin; E. L. Venturini Visualizza cluster
Pubblicazione: Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1988
Descrizione fisica: 1 online resource
Altri autori: HubbardC. R  
MorosinB  
StewartJM  
VenturiniE. L  
ZhangY  
Note generali: 1988.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Title from PDF title page.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Altri titoli varianti: XRAYL
Titolo autorizzato: XRAYL  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910710516003321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui