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Autore: |
Ryan Jason
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Titolo: |
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
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Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (183 pages) |
Disciplina: | 621.3815 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Reliability |
Semiconductors - Reliability | |
Nota di contenuto: | PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES. |
Titolo autorizzato: | 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report ![]() |
ISBN: | 1-4673-7396-6 |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910136366303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |