2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
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| Autore: |
Ryan Jason
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| Titolo: |
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
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| Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2016 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (183 pages) |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Reliability |
| Semiconductors - Reliability | |
| Nota di contenuto: | PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES. |
| Titolo autorizzato: | 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report |
| ISBN: | 1-4673-7396-6 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910136366303321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |