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1. |
Record Nr. |
UNINA9910136366303321 |
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Autore |
Ryan Jason |
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Titolo |
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015 |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York : , : IEEE, , 2016 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (183 pages) |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Integrated circuits - Reliability |
Semiconductors - Reliability |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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Nota di contenuto |
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