2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
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| Titolo: |
2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE, 2011 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (407 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 621.381548 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Persona (resp. second.): | IEEE Staff |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| ISBN: | 1-4577-0158-8 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996206974703316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |