Record Nr.

UNISA996206974703316

Titolo

2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

Pubbl/distr/stampa


[Place of publication not identified], : IEEE, 2011

ISBN

1-4577-0158-8

Descrizione fisica

1 online resource (407 pages) : illustrations

Disciplina

621.381548

Soggetti

Integrated circuits - Testing

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph